化金厚度測(cè)量儀_天瑞儀器 移動(dòng)平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。 樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層

金層測(cè)厚儀_天瑞儀器 也廣泛應(yīng)用于精密儀器儀表、印刷板、集成電路、電子管殼、電接點(diǎn)等要求電參數(shù)性能穩(wěn)定的零件電鍍。鍍金層的厚度會(huì)直接影響上述各種物理和外觀性能，金層測(cè)厚是產(chǎn)品質(zhì)量的有力保障。同時(shí)由于金的價(jià)格昂貴，鍍金層的厚度又直接影響了企業(yè)的利潤，因此金層測(cè)厚更是企業(yè)控制成本，增長利潤的必要手段。

金屬鍍層測(cè)厚儀_Thick800A天瑞儀器 俗稱X射線熒光膜厚儀、鍍層膜厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等；精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度；主要應(yīng)用在：電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金工具、五金電鍍、珠寶飾、汽車配件、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等。

廠家供應(yīng)金屬鍍層測(cè)厚儀_天瑞儀器 性能特點(diǎn)】 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn) 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加 良好的射線屏

鍍鎳測(cè)厚儀_天瑞儀器 是天瑞儀器價(jià)格優(yōu)的鍍層測(cè)厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測(cè)，配置的軟件界面簡潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)可靠及時(shí)。