金屬化膜電容器成分分析儀天瑞儀器

使用X射線熒光光譜儀（XRF）測(cè)量金屬化膜電容器鍍層中的鋁（Al）和鋅（Zn）含量是一種快速、無(wú)損、高效且廣泛應(yīng)用的技術(shù)。以下是其應(yīng)用、原理、優(yōu)勢(shì)及注意事項(xiàng)的詳細(xì)說(shuō)明：

    X射線熒光光譜儀（XRF）?核心原理

1. 激發(fā)：XRF儀發(fā)出高能初級(jí)X射線束，照射到樣品（電容器的金屬化膜）表面。

2. 電離：初級(jí)X射線使樣品表層（通常幾微米深度）元素的內(nèi)層電子（如K層或L層）被激發(fā)彈出，形成空穴。

3. 馳豫發(fā)射：處于不穩(wěn)定狀態(tài)的原子外軌道電子向內(nèi)躍遷填充空穴時(shí)，會(huì)釋放出特定能量的二次X射線（特征X射線熒光）。

4. 檢測(cè)分析：探測(cè)器接收這些發(fā)出的特征熒光X射線。不同元素具有特定的特征X射線能量（或波長(zhǎng)）：

o 鋁：Kα線約為1.486 keV（或Lα線約1.487 keV）。

o 鋅：Kα線約為8.638 keV。

5. 定量：通過(guò)測(cè)量Al和Zn特征峰線的強(qiáng)度（譜圖中峰的面積或高度），結(jié)合校準(zhǔn)曲線（使用已知含量的標(biāo)準(zhǔn)樣品建立），即可計(jì)算出鍍層中鋁和鋅的質(zhì)量百分比（重量%）或在鍍層厚度方向上的含量分布（通過(guò)深度剖析模式）。

金屬化膜電容器成分分析儀天瑞儀器  產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置