金屬膜厚測(cè)試儀THICK800A,天瑞儀器

金屬膜厚測(cè)試儀THICK800A,天瑞儀器 

開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

金屬膜厚測(cè)試儀THICK800A,天瑞儀器 技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A 
產(chǎn)品名稱：金屬膜厚測(cè)試儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃30℃。

產(chǎn)品功能：
1. Ux-720新一代國(guó)產(chǎn)鍍層厚度檢測(cè)儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測(cè)器），測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界*。
2. 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測(cè)的需求。
3. Ux-720微移動(dòng)平臺(tái)和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部，觀察移動(dòng)位置簡(jiǎn)單方便。
4. X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
5. Ux-720鍍層測(cè)厚儀采用了華唯新技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度，測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
6. 樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。
設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安全高于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。
7. 軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測(cè)試的記錄同時(shí)自動(dòng)添加測(cè)試人的登錄名稱。
產(chǎn)品指標(biāo)：
測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測(cè)量下限：0.003um
測(cè)量上限：30-50um（以材料元素判定）
測(cè)量層數(shù)：10層
測(cè)量用時(shí)：30-120秒
探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷   
探測(cè)器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg