平面樣品鍍層厚度檢測(cè)儀

 平面樣品鍍層厚度檢測(cè)儀 

 
采用下照式：適合平面樣品的鍍層測(cè)試需求；準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測(cè)；移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)；高分辨率探測(cè)器：提高分析的性；新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。

 平面樣品鍍層厚度檢測(cè)儀 

應(yīng)用領(lǐng)域鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，          □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag銅基----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr鋅基----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr 技術(shù)參數(shù)  1   分析元素范圍：S-U2   同時(shí)可分析多達(dá)3層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.01μm4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm5   定位精度：0.5mm5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s6   計(jì)數(shù)率：1300-8000cps7 儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.01—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。 儀器硬件配置                                       1. X 光管2. 高、低壓電源3. MCA多道分析器:                              4. 高精密攝像頭5. 移動(dòng)平臺(tái)（自動(dòng)）6. 超大樣品腔7. 準(zhǔn)直器自動(dòng)切換8. 濾光片自動(dòng)切換9. 準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合10. 標(biāo)準(zhǔn)樣品

質(zhì)量1. 乙方對(duì)所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行終身維修；2. 軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí)，不再收取升級(jí)費(fèi)用；3. 保修條款3.1. 儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年；3.2. 免費(fèi)保修期內(nèi)，維修相關(guān)費(fèi)用全免；