天瑞儀器X熒光光譜測(cè)厚儀

  天瑞儀器X熒光光譜測(cè)厚儀  項(xiàng)       目 參        數(shù) 
測(cè)量元素范圍 Cl（17）-U（92） 
涂鍍層分析范圍 P（15）-U（92）可區(qū)分檢測(cè)電鍍鎳和化學(xué)鎳 
分析軟件 EFP，可同時(shí)分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析 
軟件操作 人性化封閉軟件，自動(dòng)提示校正和步驟，避免操作錯(cuò)誤 
X射線裝置 W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管 
準(zhǔn)直器 ? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；四準(zhǔn)直器自動(dòng)切換 
近測(cè)距光斑擴(kuò)散度 10% 
測(cè)量距離 具有距離補(bǔ)償功能，可改變測(cè)量距離，能測(cè)量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級(jí)到90mm) 
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能 
對(duì)焦方式 高敏感鏡頭，手動(dòng)對(duì)焦 

放大倍數(shù) 光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍 
  天瑞儀器X熒光光譜測(cè)厚儀樣品臺(tái)尺寸 500mm*360mm 
移動(dòng)方式 高精密XY手動(dòng)滑軌 
可移動(dòng)范圍 50mm*50mm 
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱 
廠家介紹

X熒光測(cè)厚儀生產(chǎn)生產(chǎn)廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司，新款Thick 8000X熒光測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型鍍層膜厚測(cè)試儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測(cè)厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度；應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987