XRF元素分析儀具有多種測試模式設(shè)置和數(shù)目模式的自由添加,內(nèi)置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。采用超小超真空的樣品腔設(shè)計,測試時達到10Pa以下,使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。
樣品原子時,會產(chǎn)生次級X射線,這些次級X射線會被探頭收集并處理。
較穩(wěn)定的原子是由原子核及繞核旋轉(zhuǎn)的電子構(gòu)成,電子按照能量層級或電子殼層排列,不同的能量層級可包含不同數(shù)量的電子。
在高能初級X射線與原子發(fā)生碰撞時,會打亂原子的平衡狀態(tài)。
此時,電子會從較低的能量層級射出,形成電子空位,使原子失去穩(wěn)定。
為了恢復(fù)穩(wěn)定性,較高能量層級的電子就會空位。而電子在兩個能量層級間移動時釋放的多余能量就會以次級X射線的形式發(fā)射出來。發(fā)射出的X射線的能量會表現(xiàn)出元素的特征。這也就意味著XRF能夠提供有關(guān)被測樣品的定性信息。
XRF元素分析儀的開機技巧:
1.待設(shè)備內(nèi)液態(tài)氮的狀態(tài)確認OK后,方可開機。
2.打開檢測設(shè)備變壓器的開關(guān),確認輸出電壓為100V,觀察綠色指示燈亮為正常運行。
3.打開插座開關(guān),檢查各插頭的插入狀態(tài)是否良好。
4.再打開分析儀的開關(guān),“READY”燈開始閃爍,約6分鐘后變?yōu)槌A痢?br />
5.打開冷光照射器的開關(guān),并確認照射器上的開關(guān)是否設(shè)置在“M”側(cè)。
6.然后再開電腦顯示器和主機。