X熒光光譜分析有什么優(yōu)勢(shì)?

傳統(tǒng)的分析方法如試金石法，灰吹法，火試金法等都屬于破壞性檢測，不但具有消耗性和危險(xiǎn)性，且樣品的制備過程耗時(shí)更長。而X熒光光譜分析可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù)。